MARSURF XC 2 MIT CD 120 輪廓測量站

精密輪廓測量入門之選 測量和評估工件和工具上與功能相關的幾何參數是研究、設計和工業的基本要求。相對其他方法,快速、簡單而經濟的 2D 輪廓測量系統受到越來越多的青睞。M
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精密輪廓測量入門之選
測量和評估工件和工具上與功能相關的幾何參數是研究、設計和工業的基本要求。相對其他方法,快速、簡單而經濟的 2D 輪廓測量系統受到越來越多的青睞。MarSurf XC 2 可滿足精度和評估標準范圍相關的各方面需求。同時,它還能提供安全而可靠的結果。
  • 利用相關元件,更換基準元件后可立即對基準元件相關的參數重新計算。
  • 密碼保護用戶訪問權限,避免不當使用
  • 以多年經驗為基礎的出色校準流程,包括幾何形狀校準、測量力校準、彎曲補償等等
  • 穩定、堅固的測頭
  • 平滑運行,穩定而準確的驅動裝置
  • 根據各種調整速度自動降低和抬高測桿
  • 高定位精度
  • 專利測桿固定技術,防碰撞保護
  • 技術數據
  • 應用
  • 附件
  • 貨運

 

接觸速度(Z 方向)
0.1 至 1 mm/s
測桿長度
175 mm, 350 mm
測量速度(文本)
0.2 mm/s 至 4 mm/s
針尖半徑
25 µm
掃描長度末尾(X 方向)
120 mm
分辨率
Z 方向,相對探針針頭:0.38 µm(350 mm 測桿)/ 0.19 µm(175 mm 測桿)
在 Z 方向,相對于測量系統:0.04 µm
掃描長度開始(X 方向)
0.2 mm
取樣角
在平滑表面上,取決于偏差:后緣高至 88°,前緣高至 77°
定位速度(文本)
X 方向返回速度:0.2 至 8 mm/s
Z 方向:0.2 至 10 mm/s
導塊偏差
< 1 µm(超過 120 mm)
測量范圍 mm
(Z 方向)50 mm
掃描長度(文本)
0.2 mm 至 120 mm
測量力 (N)
1 mN 至 120 mN

 


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