MARSURF XC 20 MIT PCV 200 輪廓測量站

輪廓測量的國際基準 MarSurf XC 20 被公認為輪廓評估的終極產品。開始于 30 年前的 Konturograph 產品 - 由驅動裝置和 X-/Y-記錄儀構成 #96 現已通過一流的技術發展為頂級質量的輪廓測量系統
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輪廓測量的國際基準
MarSurf XC 20 被公認為輪廓評估的終極產品。開始于 30 年前的 Konturograph 產品 - 由驅動裝置和 X-/Y-記錄儀構成 #96 現已通過一流的技術發展為頂級質量的輪廓測量系統。微調的設備配置可提供卓越的性能標準。驅動裝置和測量立柱通過可靠的測量和評估軟件進行控制和定位。
  • 可以顯示用戶提示
  • 交互控制元素支持評估和自動例行程序
  • 使用雙探針測頭測量上下輪廓;也可對兩個輪廓進行相對評估
  • 剖面圖像,可評估各剖面的不同參數
  • 可對孔或陡峭對象等障礙進行分段測量
  • 支持導入和導出 dxf 文件以對比設定點/實際值
  • PCV 200 驅動裝置采用專利的測桿安裝方式,無需工具即可完成可重復性測桿更換
  • 專利測頭系統,提高測量站靈活性
  • 手動可變掃描力,同樣提高靈活性
  • 使用直線和圓弧合成標稱輪廓
  • 方便比較標稱和實際輪廓 可通過輪廓內的描述選擇不同的公差
  • 技術數據
  • 應用
  • 附件
  • 版本
  • 貨運

 

接觸速度(Z 方向)
0.1 至 1 mm/s
測桿長度
175 mm, 350 mm
測量速度(文本)
0.2 mm/s 至 4 mm/s
針尖半徑
25 µm
掃描長度末尾(X 方向)
200 mm
分辨率
Z 方向,相對探針針頭:0.38 µm(350 mm 測桿)/ 0.19 µm(175 mm 測桿)
在 Z 方向,相對于測量系統:0.04 µm
掃描長度開始(X 方向)
0.2 mm
取樣角
在平滑表面上,取決于偏差:后緣高至 88°,前緣高至 77°
定位速度(文本)
X 方向返回速度:0.2 至 8 mm/s
Z 方向:0.2 至 10 mm/s
導塊偏差
< 1 µm(200 mm 以上)
測量范圍 mm
(Z 方向)50 mm
掃描長度(文本)
0.2 mm 至 200 mm
測量力 (N)
1 mN 至 120 mN,以下和以上(可在 MarSurf XC 20 中設置)

 


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