MARSURF XR 20 MIT GD 25 粗糙度測量站

MarSurf XR 20,頂級表面度量的完美選項。 該計算機儀器根據國際標準為測量室或生產提供所有常見表面參數和輪廓。強大的 MarSurf XR 20 將數十年的表面度量經驗與創新技術、方便閱讀的
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MarSurf XR 20,頂級表面度量的完美選項。
該計算機儀器根據國際標準為測量室或生產提供所有常見表面參數和輪廓。強大的 MarSurf XR 20 將數十年的表面度量經驗與創新技術、方便閱讀的圖標和用戶友好的操作員協助結合。
  • 超過 100 種符合 ISO / JIS、ASME 或 MOTIF (ISO 12085) 標準的表面參數可用于 R-、P- 和 W 輪廓
  • 所有表面參數的公差監控和統計
  • 快速創建 Quick&Easy 測量程序的 Teach-in 方法
  • 全面的測量記錄
  • 根據標準選擇濾波和掃描長度的自動功能
  • 通過設置 Ra 或 Rz 參數支持各種校準方法(靜態/動態)
  • 可調維護和校準間隔
  • 快速熟悉操作原理的模擬模式
  • 多種測量站配置可使用自定義應用
  • 技術數據
  • 應用
  • 附件
  • 貨運

 

測量原則
探針法
輸入
R 測頭,MFW 250 B
測量范圍 mm
MFW 250: ±25 ?m,±250 ?m,(高達 ±750 ?m); ±1000 ?英寸,±10,000 ?英寸(高達 ±30,000 ?英寸)
過濾器符合 ISO/JIS 標準
ISO 11562 標準高斯濾波,ISO 16610-21/ISO 16610-31 標準濾波
掃描長度(文本)
自動;0.56 mm;1.75 mm;5.6 mm;17.5 mm,56 mm*,
測量至擋塊,可變
* 掃描長度取決于驅動裝置
采樣長度數量符合 ISO/JIS
1 至 50(默認:5)
表面參數
超過 100 種符合當前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 標準的
表面參數可用于 R-、P- 和 W 輪廓

 


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